НДІ мікрографії — Головна

НДІ МІКРОГРАФІЇ [https://micrography.gov.ua/] Пошук... МЕНЮ Головна Контакти Архів новин Мапа сайту УКР РУС Ви тут: Головна Головна Історія Законодавча та нормативно-правова база Напрями діяльності Структура інституту Послуги Державний реєстр потенційно небезпечних об’єктів Методичні матеріали Методична допомога навчальному процесу Інформаційні бюлетені СФД (дайджест) Науково-виробничий журнал «Інформація та безпека суспільства» Журнал Страховий Фонд Документації Семінари, конференції, матеріали у ЗМІ Доступ до публічної інформації Запобігання проявам корупції Інформуємо громадськість Міжнародна діяльність Державні закупівлі Обговорюємо Конституцію Вакансії 2021-05-14 Події » Детальніше... 2021-05-13 Семінари » Детальніше... 13 травня 2021 року, у рамках ΧΧIΧ Міжнародної науково-практичної конференції (MicroCAD-2021) Національного технічного університету «ХПІ», на базі НДІ мікрографії в онлайн режимі відбулася робота секції № 22 «Страховий фонд документації: актуальні проблеми та методи обробки і зберігання інформації». 2021-05-13 Семінари » Детальніше... 13 – 14 травня 2021 року в НДІ мікрографії (м. Харків) відбулася XIV Науково-технічна конференція «Сучасний стан та проблемні питання страхового фонду документації, перспективи розвитку та взаємодії» . 2021-05-11 Події » Детальніше... Колектив Науково-дослідного, проектно-конструкторського та технологічного інституту мікрографії висловлює глибоке співчуття з приводу смерті директора Західного регіонального центру страхового фонду документації НІКІФОРОВА ЮРІЯ ПАВЛОВИЧА ! Світла пам'ять про професіонала своєї справи назавжди залишиться в наших серцях. Висловлюємо щирі співчуття родині та близьким з приводу тяжкої втрати. 2021-04-29 ТК 40 » Детальніше... У квітні 2021 року Технічний комітет стандартизації ТК 40 «Страховий фонд документації» у рамках міжнародного співробітництва з міжнародними технічними комітетами ISO/TC 42 «Фотографія» та ISO/TC 171 «Управління документообігом» в галузі стандартизації провів онлайн-голосування двох проектів міжнародних стандартів на зазначених стадіях розроблення: 2021-04-07 ТК 40 » Детальніше... У березні 2021 року Технічний комітет стандартизації ТК 40 «Страховий фонд документації» у рамках міжнародного співробітництва з міжнародними технічними комітетами ISO/TC 46 «Інформація та документація» та ISO/TC 171 «Управління документообігом» в галузі стандартизації провів онлайн-голосування двох проектів міжнародних стандартів на зазначених стадіях розроблення: 2021-03-17 НТР » Детальніше... 17 березня 2021 року відбулось засідання Науково-технічної ради інституту, на якому розглянуті питання: 2021-03-01 ТК 40 » Детальніше... У лютому 2021 року Технічний комітет стандартизації ТК 40 «Страховий фонд документації» у рамках міжнародного співробітництва з міжнародними технічними комітетами ISO/TC 46 «Інформація та документація» та ISO/TC 171 «Управління документообігом» в галузі стандартизації провів онлайн-голосування двох проектів міжнародних стандартів на зазначених стадіях розроблення: 2021-02-26 Події » Детальніше... У лютому 2021 року Державне підприємство «Український інститут інтелектуальної власності» видав патент № 145995 на корисну модель «Спосіб збереження інформації про кольори та відтінки на чорно-білій мікрографічній фотоплівці». 2021-02-26 Події » Детальніше... У лютому 2021 року співробітники відділу досліджень, розробки та удосконалення технологій формування СФД прийняли участь у VІ міжнародній науково-практичної конференції «PRIORITY DIRECTIONS OF SCIENCE AND TECHNOLOGY DEVELOPMENT», м. Київ з доповіддю «Контроль якості мікрофільмів з оптично зчитуваними цифровими кодами». Автори: Тімров О.О., Ткаченко В. П., Надточій І.І., Дубина О. М. Перейти до повного переліку актуальних новин Анонси Події » Детальніше... Засновано електронний науково-виробничий журнал «Інформація та безпека суспільства». Вимоги до надання матеріалів статей дивіться на сайті: ips.archives.gov.ua www.sciencenews.org www.fainaidea.com www.itnews.com.ua Науково-дослідний, проектно-конструкторський та технологічний інститут мікрографії Copyright © 2018