НИИ микрографии: Главная

[] Пропустить и перейти к материалам Пропустить и перейти к главной навигации Пропустить и перейти к первому столбцу Пропустить и перейти ко второму столбцу НИИ микрографии Научно-исследовательский, проектно-конструкторский и технологический институт микрографии Новости Анонсы 05.07.2017 Новости и анонсы 05 июля 2017 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором был рассмотрен вопрос: О результате работы по исследованию процессов научно-организационной деятельности в сфере страхового фонда документации на соответствие изменениям действующего законодательства. 29.05.2017 Новости и анонсы 29 мая 2017 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором был рассмотрен вопрос: О состоянии планирования научных работ, выполнение которых запланировано на 2018 год. 19.05.2017 Семинары, конференции, материалы в СМИ 18 мая 2017 г. на базе НИИ микрографии проходила работа секции № 25 «Страховой фонд документации: актуальные проблемы и методы обработки и хранения информации» ΧΧV Международной научно-практической конференции (MicroCAD-2017) Национального технического университета «Харьковский политехнический институт». В работе секции приняли участие 22 специалиста, которые представляли: Центральный государственный научно-технический архив Украины, Национальный университет гражданской защиты Украины, Государственный архив Харьковской области, специальные учреждения страхового фонда документации Украины, НИИ микрографии и другие организации. Одновременно 18–19 мая 2017 г. в НИИ микрографии (г. Харьков) состоялась X Научно-техническая конференция «Современное состояние и проблемные вопросы страхового фонда документации, перспективы развития и взаимодействия» . На конференцию подано тезисы 39 докладов. В роботе конференции приняли участие 53 специалиста. Подробнее... 10.05.2017 Новости и анонсы В апреле 2017 года Технический комитет стандартизации ТК 40 «Страховой фонд документации» в рамках международного сотрудничества с международными техническими комитетами ISO/TC 42 «Фотография», ISO/TC 46 «Информация и документация» в области стандартизации провел онлайн-голосование двух проектов международных стандартов на указанных стадиях разработки: ISO/FDIS 18941 Изобразительные материалы – Цветные рефлексные принты – Метод испытаний светопрочности под действием озона (Imaging materials – Colour reflection prints – Test method for ozone gas fading stability) (на стадии утверждения от ТК 42); ISO/CD 19580 Информация и документация – Международная статистика архивов (Information and documentation – International archives statistics) (на стадии комитета от ТК 46). Проекты международных стандартов отработаны на соответствие Директивам ИСО/МЭК 2011, Часть 2: Правила построения и оформления международных стандартов, без замечаний. Голосование по этим стандартам проведено в сроки, указанные секретариатами ISO/ТС непосредственно в проектах международных стандартов. 24.04.2017 Новости и анонсы В апреле 2017 года НИИ микрографии был награжден Дипломом за участие во Всеукраинском конкурсе «Изобретение года - 2016» (патенты №94704 и №102938). С результатами Всеукраинского конкурса «Изобретение года - 2016» можно ознакомиться на сайте Государственного предприятия «Украинский институт интеллектуальной собственности» и на сайте Всеукраинского конкурса «Изобретение года - 2016» . 31.03.2017 Семинары, конференции, материалы в СМИ 30 марта 2017 специалисты НИИ микрографии приняли участие в работе научно-практического семинара VIII Лунёвские чтения «Проблемы сохранения музейных коллекций», который состоялся в Национальном университете имени В. Н. Каразина г. Харьков. В семинаре приняли участие 44 специалиста, которые представляли 36 музеев и научных учреждений страны. Особое внимание вызвали доклады специалистов НИИ микрографии по темам: «Проблемные вопросы сохранения комплексной информации о культурных ценностях и восстановления ее с заданным качеством» Бабенка В. В. и «Перспективы применения документов страхового фонда документации Украины для восстановления утраченных музейных памятников» Болбаса А. Н. 31.03.2017 Семинары, конференции, материалы в СМИ 29 – 30 марта 2017 года специалисты НИИ микрографии приняли участие в организации работы Международной научно-практической конференции молодых ученых «Проблемы и перспективы обеспечения гражданской защиты» , которая состоялась в Национальном университете гражданской защиты Украины г. Харьков. В форуме приняли участие почти 500 молодых научных работников из Азербайджана, Беларуси, Болгарии, Польши, Казахстана и многих регионов Украины. В ходе научного форума участники приняли резолюцію. Одновременно принято участие в работе Отраслевой конкурсной комиссии ІІ этапа Всеукраинской студенческой олимпиады 2016/2017 учебного года по дисциплине «Пожарная безопасность», на которую в Харьков приехало почти 50 участников из разных регионов нашего государства. Подробнее... 23.03.2017 Новости и анонсы 23 марта 2017 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором был рассмотрен вопрос: О рассмотрении оригинал-макета журнала «СФД (Страховой фонд документации)» № 1 (22) 2017. 16.03.2017 Семинары, конференции, материалы в СМИ 14-15 марта 2017 года на базе Центральной научной библиотеки Харьковского национального университета имени В.Н. Каразина и НИИ микрографии состоялся семинар по вопросам сохранения и безопасности библиотечных фондов. Подробнее... 06.03.2017 Новости и анонсы Постановлением Кабинета министров Украины от 26 октября 2016 № 745 (вступило в силу 1 ноября 2016 года) внесены изменения в постановление Кабинета министров Украины от 25 марта 2015 № 302, согласно которым утвержден новый образец и техническое описание паспорта гражданина Украины с бесконтактным электронным носителем и изложены в новой редакции Порядок оформления, выдачи, обмена, пересылки, изъятия, возвращения государству, признание недействительным и уничтожение паспорта гражданина Украины. 20.01.2017 Новости и анонсы В декабре 2016 года Технический комитет стандартизации ТК 40 «Страховой фонд документации» в рамках международного сотрудничества с международными техническими комитетами ISO/TC 46 «Информация и документация», ISO/TC 171 «Управление документооборотом» и ISO/TC 292 «Безопасность» в области стандартизации провел онлайн-голосования трех проектов международных стандартов на указанных стадиях разработки: ISO/NP 21740 Безопасность и отказоустойчивость – Руководство по процессу оценки сложности с целью повышения безопасности и отказоустойчивости (Security and resilience – Guideline for complexity assessment process to improve security and resilience) (на стадии новой рабочей темы TC 292); ISO/SR 10244 Управление документооборотом – Основы и анализ бизнес-процессов (Document management – Business process baselining and analysis) (на стадии пересмотра от TC 171); ISO/CD 23081-1 Информация и документация – Процессы управления записями – Метаданные для записей – Часть 1 – Принципы (Information and documentation – Records management processes – Metadata for records – Part 1: Principles) (на стадии комитета от TC 46). Проекты международных стандартов обработано на соответствие директивам ИСО/МЭК 2011, часть 2: Правила построения и оформления международных стандартов, без замечаний. Голосование по этим стандартам проведения в сроки, указанные секретариатами ISO/ТС непосредственно в проектах международных стандартов. 11.01.2017 Новости и анонсы 10 января 2017 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором рассмотрены вопросы: О результатах выполнения Тематического плана прикладных исследований и опытно-конструкторских (технологических) работ НИИ микрографии на 2016 год. Об определении Перечня особо важных работ по Тематическому плану прикладных исследований и опытно-конструкторских (технологических) работ НИИ микрографии на 2017 год. 03.01.2017 Новости и анонсы 29 декабря 2016 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором рассмотрен вопрос: Об итогах деятельности научных школ НИИ микрографии в 2016 году. 18.10.2016 Семинары, конференции, материалы в СМИ 11-13 октября специалисты НИИ микрографии приняли участие в работе ХV Международного выставочного форума «Технологии защиты/ПожТех – 2016» (далее – Форум), который был проведен в городе Киеве на территории Международного выставочного центра (Броварской проспект, 15, ст. метро «Левобережная»). На этом Форуме специалисты НИИ микрографии имели возможность представить деятельность НИИ микрографии и предложить свои услуги по внедрению перспективных разработок и инновационных технологий в Украине. Подробнее... 22.06.2017 Новости и анонсы 25 июля 2017 года состоится заседание Научно-технического совета института, на котором будет рассмотрен вопрос: О результате работы по исследованию задачи входного контроля качества электронных паспортов потенциально опасных объектов для ее автоматизации. Главное меню Главная История Нормативно-правовая база Направления деятельности Структура института ТК 40 Отделы Услуги Методические материалы Методическая помощь учебному процессу Информационные бюллетени СФД Семинары, конференции, материалы в СМИ Доступ к публичной информации Предотвращение проявлений коррупции Информируем общественность Международные связи Обсуждаем Конституцию Вакансии Контакты Архив материалов В мире интересного Журнал: Наука и жизнь FainaIdea: Новые технологии и идеи THG.RU: Новости IT-индустрии ITnews: Новости ИТ Карта сайта