|
Кувшинський Микола Георгійович
1936 р.н., професор, завідуючий міжфакультетською науково-дослідною лабораторією прикладних проблем запису інформації, Лауреат Державних Премій України в галузі науки і техніки
Закінчив у 1966 р. факультет радіоелектроніки (вечірнє відділення) Київського Політехнічного інституту. Працює в Київському університеті з 1962 року, коли був зарахований науковим співробітником радіофізичного факультету. В 1980 р. став завідувачем, а з 1987 р. і науковим керівником Міжфакультетської науково-дослідної лабораторії прикладних проблем запису інформації. В 1970 році захистив під керівництвом проф.Находкіна М.Г. кандидатську дисертацію “Фототермографічний запис інформації”. Докторську дисертацію на тему “Оптична голографія на термопластичних середовищах” захистив у 1980 р. за спеціальністю "Фізика напівпровідників та діелектриків".
Автор більше 250 наукових праць, у тому числі монографії “Фізика аморфних молекулярних напівпровідників” (1994 р.).. Під його керівництвом захищено 9 кандидатських і 1 докторська дисертація. Двічі (в 1970 і в 1996 роках) удостоєний звання лауреата Державної премії України в галузі науки і техніки. Академік і один з фундаторів Академії наук вищої школи України. З 1993 р. обраний офіційним представником від України в Міжнародному Комітеті по фотографічній науці (ICSP).
Область наукових інтересів охоплює фундаментальні дослідження електро- і фотофізичних властивостей органічних напівпровідників, розробку фізичних принципів запису оптичної інформації на цих матеріалах, створення нових методів голографічної інтерферометрії та апаратури для їх реалізації. В області фундаментальних досліджень розроблено науковий напрямок “Основи фізики аморфних молекулярних напівпровідників”. Прикладні розробки включають розробку технології одержання плівок аморфних молекулярних напівпровідників, створення високочутливих голографічних реєструючих середовищ, апаратуру керування роботою цих середовищ при реєстрації голограм, нові і модернізовані методи голографічної інтерферометрії, адаптивні системи голографічної інтерферометрії для фізичних вимірювань залишкових напружень та дефектоскопії в продукції важкої промисловості, на виробництвах авіаційної, автомобільної, корабельнобудівної промисловості, при діагностиці елементів водо-, газо-, нафтопроводів та інших металевих та композитних конструкцій.
|